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SEM测试_扫描电镜检测
SEM测试_扫描电镜检测
提供扫描电镜(SEM)服务.二十年专业扫描电镜(SEM)检测技术积累.
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提供扫描电镜(SEM)测试分析服务

扫描电镜(SEM)测试原理

样品表面加一个强电场,样品表面势垒降低,由于隧道效应,样品金属内部的电子穿过势垒从金属表面发射出来,这种现象称场发射。亮度高约比普通SEM100倍,分辨率可达10nm.

扫描电镜(SEM)检测仪器型号ZEISS Merlin Compact

扫描电镜(SEM)仪器参数

二次电子分辨率: 1.4nm (1 kV,减速模式)

放大倍率: x 20~ x 800,000

电子枪: 冷场发射电子源

扫描电镜(SEM)分析送样要求及注意事项

粉状样品50-100mg之间

块状样品不能大于5mm宽,高度小于5mm.

样品有磁性一定要告知。

扫描电镜(SEM)测试实例

SEM测试
SEM检测
Mapping测试

扫描电镜(SEM)测试实例


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